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帶您了解粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)的相關(guān)信息
發(fā)布日期：2019-03-05 瀏覽次數(shù)：1884
帶您了解粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)的相關(guān)信息
粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)是是通過粒度儀器對(duì)粉體粒度的特性進(jìn)行表征的一項(xiàng)科學(xué)試驗(yàn)工作。現(xiàn)在粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)的制作和應(yīng)用已經(jīng)涉及了顆粒學(xué)、化學(xué)分析、物理學(xué)、計(jì)算機(jī)等諸多學(xué)科的理論知識(shí)，又涉及各種各樣的粉體，是一項(xiàng)理論性和實(shí)踐性都很強(qiáng)的工作。
首先我們先來了解一下什么是粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)，字面上來解釋，粉體就是指在毫米到納米之間的范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。粒度是指顆粒的大小。
通常的測(cè)量?jī)x器都有性方面的標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)。但是由于粒度測(cè)試的特殊性，一般使用真實(shí)性來表示性方面的含義。因?yàn)榱６葴y(cè)試所測(cè)得的粒徑為等效粒徑，對(duì)同一個(gè)顆粒，不同的等效方法可能會(huì)得到不同的等效粒徑。可以見得，根據(jù)測(cè)量方法的不同，同一個(gè)顆粒得到了兩個(gè)不同的結(jié)果，也就是說一個(gè)不規(guī)則形狀的顆粒，如果用一個(gè)數(shù)值來表示它的大小時(shí)，這個(gè)數(shù)值不是*的，而是有一系列的數(shù)值。
粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試的方法也非常的多，據(jù)統(tǒng)計(jì)有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種，其余還要幾種在特定行業(yè)和領(lǐng)域中常用。
我們公司粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)參數(shù)：
1、使用全息信號(hào)同步的處理技術(shù)，實(shí)時(shí)測(cè)量速度高達(dá)每秒20000次，同時(shí)達(dá)到不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息的程度，符合ISO13320衍射法測(cè)量技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
2、使用改進(jìn)型反演算法，用戶不需要選擇“分析模式”，以兼顧的分辨率和穩(wěn)定性。同時(shí)也不需要更換透鏡，不需要使用標(biāo)準(zhǔn)樣的校準(zhǔn)，量程范圍達(dá)到0.02微米至3600微米。
3、本粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)使用的是自動(dòng)溫度恒定技術(shù)的超高穩(wěn)定固體激光光源系統(tǒng)技術(shù)，的克服了氦氖氣體激光器預(yù)熱時(shí)間長(zhǎng)和使用壽命短的缺點(diǎn)。
4、使用了偏振空間濾波的技術(shù)，放棄了有可能導(dǎo)致機(jī)械和熱穩(wěn)定性差的針孔濾波器，同時(shí)使用金屬拉絲外殼設(shè)計(jì)，兼顧耐用性和提高儀器的抗干擾能力。
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